Ce livre propose une introduction claire et accessible à la microscopie électronique en transmission (MET). Il s'agit d'une approche basique de cette méthode de caractérisation des matériaux en général et des solides cristallins en particulier, en consacrant une part importante à l'imagerie des dislocations et autres défauts des structures cristallines. L'application de la MET à la physique du solide a connu un essor considérable avec l'avènement de technologies toujours plus novatrices dans l'étude de la matière condensée. Ces performances nécessitent une approche théorique très élaborée parfois inspirée de celle des rayons X. C'est notamment le cas pour une application courante de cette microscopie : l'étude des défauts cristallins qui jouent un rôle primordial dans les propriétés physiques des matériaux. L'apprentissage dans le domaine de la caractérisation des matériaux nécessite une approche graduelle, qui évolue en fonction des avancées constantes des performances des microscopes. Bien que la MET soit une méthode très sophistiquée, cet ouvrage adopte une approche pragmatique, destinée principalement aux étudiants de master, aux élèves ingénieurs, aux postdoctorants et aux chercheurs non spécialistes de cette technique. Il propose une progression permettant de comprendre les principes et les applications de cette technologie tout en fournissant les bases théoriques nécessaires.